四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
四探針測(cè)試儀是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
四探針測(cè)試儀主要是用于測(cè)量物質(zhì)的電阻:
1.主機(jī)采用世界的先進(jìn)電路設(shè)計(jì),所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)(一代為傳統(tǒng)式電路,缺點(diǎn):體積大,速度慢,元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命)。
2.屏幕采用液晶顯示(一代為只有數(shù)碼管顯示)。
3.匹配電腦接口及軟件,讓操作簡(jiǎn)便明了化(可直接連接電腦,電腦進(jìn)行自動(dòng)運(yùn)算根據(jù)輸入厚度,自動(dòng)比照并修正系數(shù),使被測(cè)結(jié)果更,數(shù)據(jù)可儲(chǔ)藏或刪除,利于使用方保存記錄)。
4.二代的測(cè)試架采用自動(dòng)傳感裝置,接近被測(cè)物體時(shí)實(shí)行自動(dòng)減速,避免了被測(cè)物體的損耗和探頭的磨損(于國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上任何一款同類產(chǎn)品的測(cè)試架,老一代為手動(dòng))。
5.本儀器電壓檔為自動(dòng)調(diào)整,電流檔為半自動(dòng).不清楚被測(cè)物體阻值時(shí),可按菜單先選擇100MA電流檔進(jìn)行自動(dòng)搜索(電流可由高至低自動(dòng)搜索,不能由低向高搜索),當(dāng)選擇好電流檔后,電壓會(huì)自動(dòng)進(jìn)行調(diào)整.
6. 本儀器測(cè)試電阻、電阻率、方塊電阻時(shí),標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)為機(jī)器自帶自調(diào),無(wú)需另外手工調(diào)整,省去了原儀器的諸多麻煩。
7.測(cè)試探頭為鎢針,市場(chǎng)上多為高速鋼針。
8.每次測(cè)量均有內(nèi)置計(jì)算機(jī)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償及電壓電流矯正。
9.整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度:≤ 2%(國(guó)內(nèi)其它廠家誤差為≤ 5% )